SEM掃描電鏡樣品制備之樣品觀察面需要清潔、無(wú)污染物
日期:2023-07-12 09:36:22 瀏覽次數(shù):78
樣品觀察面需要清潔、無(wú)污染物。樣品在制備、拿取和保存過(guò)程中都要保持干凈無(wú)塵,主要污染物為灰塵、手印、人體分泌物(口水和汗液)及微量油脂等。因此,在拿取與制備樣品時(shí)需要佩戴干凈無(wú)粉手套,使用的剪刀、鑷子等制樣工具亦要保持干凈。
解決方案:
對(duì)于需要分析的塊狀樣品,如金屬斷口上通常會(huì)黏附油污、碎屑或粉塵等,它們除了影響觀察結(jié)果之外,還容易引起掃描電鏡真空腔室和電子光路器件污染。
對(duì)于金相樣品,經(jīng)過(guò)環(huán)氧樹脂鑲嵌、拋磨后,其表面會(huì)黏附有拋光膏顆粒、砂紙顆粒和環(huán)氧樹脂碎屑,放入SEM掃描電鏡觀察前,需要先用水沖洗干凈,再用乙醇等有機(jī)溶劑超聲清洗,烘干處理后即可。
制備粉末樣品時(shí),其厚度均勻,表面平整,且量不要太多,但必須要牢固的粘貼在導(dǎo)電膠上。樣品放入掃描電鏡前需用較大氣流吹掃(推薦使用除塵氣罐或壓縮氣體),以便將未粘牢的樣品顆粒吹掉。
測(cè)試的粉末樣品個(gè)數(shù)較多時(shí),制備過(guò)程中注意防止樣品交叉污染。切記 不要在放置SEM掃描電鏡旁邊吹掃樣品,以免飛起的樣品顆粒污染掃描電鏡。
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